rifs技術用于分子間互作分析

反射干涉頻譜法 rifs （Reflectometric Interference Spectroscopy）是讓白光照射在具有光學厚度的薄膜上，光線在反射過程中會發生干涉，檢測樣品與膜上的分子結合后會使光學厚度發生改變，從而使反射光的波長發生相應的改變，通過檢測反射光的峰位的改變情況，來反映分子間的相互作用情況。該方法可用于功能性高分子的評估等領域，同時還可對動態反應進行無標記，實時觀測。